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Oggetto:
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Analisi strutturale e di superficie

Oggetto:

Structural and surface investigation

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Anno accademico 2013/2014

Codice dell'attività didattica
MFN0260
Docenti
Gloria Berlier (Titolare del corso)
Prof. Giuseppe Spoto (Titolare del corso)
Dott. Elena Clara Groppo (Titolare del corso)
Corso di studi
Laurea Magistrale in Chimica dell'Ambiente D.M. 270 (1° anno)
Anno
1° anno
Tipologia
Caratterizzante
Crediti/Valenza
8
SSD dell'attività didattica
CHIM/02 - chimica fisica
Modalità di erogazione
Tradizionale
Lingua di insegnamento
Italiano
Modalità di frequenza
Facoltativa
Tipologia d'esame
Orale
Modalità d'esame
L'esame consiste in un colloquio orale e prevede una valutazione in trentesimi.
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Sommario insegnamento

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Obiettivi formativi

Gli obiettivi formativi del corso prevedono l’acquisizione da parte degli studenti dei concetti teorici e pratici che sono alla base delle tecniche sperimentali per la caratterizzazione strutturale e superficiale di materiali di interesse nel campo ambientale. Gli studenti acquisiranno le competenze per poter analizzare sistemi complessi, come materiali cristallini e amorfi, porosi e non, sfruttando l’indagine chimico-fisica e avranno i mezzi per individuare le tecniche sperimentali più appropriate a tale scopo.  

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Risultati dell'apprendimento attesi

Lo scopo del corso è quello di fornire le basi ed i principi dell’analisi strutturale e di superficie di materiali di interesse nel campo ambientale.

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Programma

Introduzione all’analisi delle superfici e alle tecniche per la determinazione della struttura di solidi inorganici.

Tecniche volumetriche per la determinazione di area superficiale e porosità di materiali.

Interazione radiazione-materia ed elettroni-materia.

La luce di sincrotrone: accelerazione di elettroni e possibili applicazioni.

Tecniche spettroscopiche per l’analisi strutturale e di superficie:

-          le spettroscopie vibrazionali FT-IR e Raman;

-          la spettroscopia UV-Vis in assorbimento ed emissione;

-          tecniche di riflettanza: la riflettanza speculare, la riflettanza diffusa (DR) e la funzione di Kubelka-Munk, la riflettanza totale attenuata (ATR);

-          la spettroscopia fotoelettronica nell’UV (UPS) e a raggi X (XPS).

-          La spettroscopia elettonica Auger (AES) e la fluorescenza a raggi X (XRF).

-          La spettroscopia a perdita di energia  (EELS).

-          La spettroscopia di assorbimento di raggi X (XAS).

Tecniche di diffrazione a raggi X: XRD di polveri. Cenni sulla diffrazione di elettroni (LEED).

Tecniche di microscopia elettronica:

-          la microscopia elettronica in trasmissione (TEM) e ad alta risoluzione (HRTEM);

-          la microscopia elettronica a scansione (SEM).

-          L’analisi elementare mediante spettroscopia a dispersione di  energia (EDS).

Cenni sulla microscopia a forza atomica (AFM).

Tecniche per la determinazione delle dimensioni di particelle: Dynamic Light Scattering (DLS).

 

Esercitazioni: utilizzo di tecniche volumetriche o di diffrazione; spettroscopie ottiche e tecniche di microscopia elettronica su materiali di interesse nella catalisi ambientale o su particolato di origine atmosferica.

Testi consigliati e bibliografia

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  • Il materiale didattico presentato a lezione è disponibile presso i docenti o sul sito del corso
  • I testi base consigliati per il corso sono: testi fondamentali di Chimica Fisica, come ad esempio Atkins, “Chimica fisica”.
  • Il materiale per approfondimenti e integrazioni sarà eventualmente indicato dai docenti durante lo svolgimento del corso, e sarà reperibile nella Biblioteca Chimica o in rete.

 



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Ultimo aggiornamento: 03/07/2014 15:13
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