- Oggetto:
- Oggetto:
Analisi strutturale e di superficie
- Oggetto:
Anno accademico 2012/2013
- Codice dell'attività didattica
- MFN0260
- Docenti
- Prof. Salvatore Coluccia (Titolare del corso)
Gloria Berlier (Titolare del corso)
Prof. Giuseppe Spoto (Titolare del corso) - Corso di studi
- Laurea Magistrale in Chimica dell'Ambiente D.M. 270 (1° anno)
- Anno
- 1° anno
- Tipologia
- Caratterizzante
- Crediti/Valenza
- 8
- SSD dell'attività didattica
- CHIM/02 - chimica fisica
- Modalità di erogazione
- Tradizionale
- Lingua di insegnamento
- Italiano
- Modalità di frequenza
- Facoltativa
- Tipologia d'esame
- Orale
- Oggetto:
Sommario insegnamento
- Oggetto:
Risultati dell'apprendimento attesi
Gli obiettivi formativi del corso prevedono l’acquisizione da parte degli studenti dei concetti teorici e pratici che sono alla base delle tecniche sperimentali per la caratterizzazione strutturale e superficiale di materiali di interesse nel campo ambientale. Gli studenti acquisiranno le competenze per poter analizzare sistemi complessi, come materiali cristallini e amorfi, porosi e non, sfruttando l’indagine chimico-fisica e avranno i mezzi per individuare le tecniche sperimentali più appropriate a tale scopo. La stesura di una relazione tecnico-scientifica sulle esercitazioni condotte in laboratorio rappresenterà un momento formativo in cui lo studente dovrà organizzare ed elaborare criticamente i dati sperimentali.
- Oggetto:
Programma
Introduzione all’analisi delle superfici e alle tecniche per la determinazione della struttura di solidi inorganici.
Tecniche volumetriche per la Determinazione di area superficiale e porosità di materiali.
Interazione RADIAZIONE-MATERIA ed ELETTRONI-MATERIA.
Tecniche Spettroscopiche per l’analisi strutturale e di superficie : La spettroscopia IR in trasformata di Fourier e l’adsorbimento di molecole sonda. La spettroscopia UV-Vis in assorbimento ed emissione. Tecniche di Riflettanza. La riflettanza speculare, la riflettanza diffusa (DR) e la funzione di Kubelka-Munk, la riflettanza totale attenuata (ATR). La spettroscopia fotoelettronica nell’UV (UPS) e a raggi X (XPS). La spettroscopia elettonica Auger (AES) e la fluorescenza a raggi X (XRF). La spettroscopia a perdita di energia (EELS).
Tecniche di diffrazione a raggi X: XRD di polveri e LEED
Tecniche di Microscopia elettronica: La microscopia elettronica in trasmissione (TEM) e ad alta risoluzione (HRTEM). La microscopia elettronica a scansione (SEM). L’analisi elementare mediante spettroscopia a dispersione di energia (EDS).
Microscopia a forza atomica (AFM)
La luce di sincrotrone. Accelerazione di elettroni e possibili applicazioni.
Esercitazioni: utilizzo di tecniche di diffrazione, spettroscopie ottiche e tecniche di microscopia elettronica su materiali di interesse nella catalisi ambientale e su particolato di origine atmosferica.
Testi consigliati e bibliografia
- Oggetto:
Il materiale didattico presentato a lezione è disponibile sul sito internet
- Oggetto:
